Hyper QVWLI是QV配备白光干涉仪的复合型高精度3D测量系统。
可根据WLI光学系统获取的3D数据进行三维表面形状分析/三维粗糙度分析。
还可根据3D数据，进行指定高度的尺寸测量和截面形状测量。
位置：
通用量具
